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Schichtdickenmessgerät - FE/NFE extern Max 100 µm: 1250 µm, d= 0,1 µm: 1... mehr

Produktinformationen "Sauter Digitales Schichtdickenmessgerät TE Kombinationsmessgerät: F / N"

Schichtdickenmessgerät - FE/NFE extern Max 100 µm: 1250 µm, d= 0,1 µm: 1 µm

Ergonomisches Design und externer Messkopf für höchsten Bedienkomfort

Externer Messkopf zum leichteren Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte
Messköpfe mit anderen Messbereichen sind auf Anfrage erhältlich
Datenschnittstelle RS-232, inklusive
Nullplatte und Justierfolien inklusive
Lieferung im robusten Tragekoffer
Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen
Wählbare Einheiten: µm, inch (mil)
Auto-Power-Off

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